標題:偏光顯微鏡鑒定土壤礦物微量分析可用于土壤

信息分類:站內新聞   作者:yiyi發布   時間:2015-4-7 19:45:13 將本頁加入收藏

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正文:

偏光顯微鏡鑒定土壤礦物微量分析可用于土壤

土壤發生學研究者寧愿用大型的土壤薄片,叫“巨大薄片”(薄片
,15X8厘米)。這種大土壤薄片的制備不宜用人工操作,運用圓形
轉動磨片機,貼上載玻片和磨片時都要維持一定壓力,完成的薄片
厚度達20-25微米。

土壤超薄片的制作,是先制成直徑大約3毫米的薄片,隨后用離子射
線處理,使之減薄直到薄片厚度僅幾百埃。

2、應用集成透射顯微技術的可能性和局限性
理論上這一系列技術允許連續觀察到放大800000倍(X800,000),
然而,實際上達不到這樣高的位數,常用的光學偏光顯微鏡的放大
倍數多10到100,很少到300,極少達500,這種局限性是因為正常土
壤薄片厚僅20-25微米,土中物體直徑<20微米時就難鑒定;并且在
大多數情況時,如果直徑<5微米即不可能鑒定。由于制土壤超薄切
片的困難,透射電鏡的利用受到很大限制,透射電鏡主要用于觀察
土壤懸濁液,借多次重復以鑒定礦物類型。

微量分析
用一系列儀器可進行元素的微量分析、微探針可在樣品表面求得元
素的分布,或一個點一個點地進行分析,樣本的表面有幾個平方微
烽,其精密度可達%數;但是只能用于原子量>11的元素。
激光光譜儀連帶偏光顯微鏡不能用于掃描。但是,樣本的分析表面
僅稍大于微探針分析的表面,然而精密度較大。
微量化學分析可用于土壤薄片,這是借加入特殊試劑,靠用目力比
色鑒定的方法,這種技術的潛在作用還待探索。
根據光學性質和結晶學特征,運用普通偏光顯微鏡可進行礦物微量
分析;但是,只有在礦物的大小超過土壤粘粒礦物過小,如用偏光
顯微鏡是很少能鑒定的。
然而,有其它技術可用以鑒定土壤礦物。例如,應用相差顯微鏡(
或干涉查)觀察;透射電鏡觀察小樣本的懸液等,這些廣場可鑒定
粘粒礦物的主要類型,但是認識它們在土壤中的轉變還有困難。
用X-射線衍射法進行微量分析還不可能很清楚,











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